可靠性試驗的分類(lèi)

電子元器件常用的可靠性試驗的分類(lèi)方法很多。按試驗目的來(lái)分，可分為可靠性鑒定試驗、壽命試驗、篩選試驗、耐久性試驗、可靠性增長(cháng)試驗。按實(shí)驗地點(diǎn)來(lái)分，可分為現場(chǎng)試驗和模擬試驗（試驗室試驗）。按試驗項目來(lái)分，則可分為環(huán)境試驗、現場(chǎng)使用試驗、特殊檢測和壽命試驗等。也有按所施加應力情況來(lái)區分的各種可靠性試驗。
     

      雖然可靠性試驗門(mén)類(lèi)很多，不同試驗都能采集到不同的數據，但它們都反映了在不同階段、不同考核對象的可靠性水平，是否達到了預定的可靠性指標?？煽啃灾笜藢?shí)際上就是可靠性試驗的失效判據。采用不同的失效判據，其可靠性評價(jià)的結果就會(huì )不同。為了通過(guò)可靠性試驗準確地對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評價(jià)，除了要**的確定失效判據外，還要注意正確的選用抽樣方法和選用合適的技術(shù)標準。下面就是對失效判據、抽樣方法和技術(shù)標準進(jìn)行介紹。
失效判據
   在進(jìn)行可靠性試驗前，首先要確定好失效判據。由于失效的判據不同，試驗結果也會(huì )有不同，為此必須做出合理的失效定義（制定失效判據）。
     失效一般分兩種，即致命性失效和非致命性失效。致命性失效如斷路、短路和嚴重喪失功能。非致命性失效如漂移失效（漏電流、互聯(lián)線(xiàn)電阻增加、電源電壓下降）。這將取決于退化的程度不同，失效形式也不同，把參數退化到什么程度判定為失效，即失效判據不同，可靠性試驗的評價(jià)結果也會(huì )有明顯的不同。所以，如何確定失效判據應該非常慎重。
      確定失效判據一般有兩種考慮，一是從滿(mǎn)足工作電流，工作條件的角度來(lái)判定試驗對象的容限值，二是從產(chǎn)品可靠性可以控制的角度來(lái)確定其極限值。對**種情況，是使用方從對器件性能的需求來(lái)考慮的；對與**種情況，則是生產(chǎn)方從器件中的失效物理出發(fā)，根據其失效模式，失效機理來(lái)確定失效判據。實(shí)際上，這兩種考慮應該兼顧，在我們常用的各種技術(shù)標準中，都兼顧到了這兩方面的考慮。
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